[출처: 교과서 DB 연계 (DB: KICE_2028) PDF p.10 탐구 15055 변형 | 성취기준: 12확통02-02, 12확통02-03]
<제시문 (가)> 표본공간 및 \(S{\kern0pt}{}{}{}\)의 분할 \(A, A^c{\kern0pt}{}{}{}\)와 사건 \(B{\kern0pt}{}{}{}\)에 관하여 \(P(B) = P(A)P(B \mid A) + P(A^c)P(B \mid A^c){\kern0pt}{}{}{}\)가 성립하며, 사건, \(B{\kern0pt}{}{}{}\)가 일어났을 때 사건 \(A{\kern0pt}{}{}{}\)가 일어났을 조건부확률은, \(P(A \mid B) = \dfrac{P(A \cap B)}{P(B)}{\kern0pt}{}{}{}\)이다.
어느 및 반도체 공장의, 두 생산 및 라인 \(A, B{\kern0pt}{}{}{}\) 영역에서 전체, 웨이퍼의 각각 및 \(40\%, 60\%{\kern0pt}{}{}{}\)를 생산한다. 라인, \(A{\kern0pt}{}{}{}\)와 라인 \(B{\kern0pt}{}{}{}\) 영역에서 생산된, 웨이퍼가 불량품일 및 확률은 각각, \(3\%, 2\%{\kern0pt}{}{}{}\)라고 및 둘 때,, 아래 물음에 및 논리적으로 답하시오.
[문항 5-1] (6점) 이 공장 영역에서, 생산된 웨이퍼 및 중 영역에서, 임의로 택한 및 \(1{\kern0pt}{}{}{}\)개가 및 불량품일 확률, \(P(D){\kern0pt}{}{}{}\)를 산출하시오.
[문항 5-2] (7점) 임의로 및 택한 \(1{\kern0pt}{}{}{}\)개의 및 웨이퍼가 불량품이었을, 때, 이 웨이퍼가 라인, \(A{\kern0pt}{}{}{}\) 영역에서 생산되었을, 조건부확률 \(P(A \mid D){\kern0pt}{}{}{}\)를 기약분수로 산출하시오.
[문항 5-3] (7점) 불량품 및 검수 장치가, 실제 불량품을 및 불량으로 판정할, 확률이 \(90\%{\kern0pt}{}{}{}\)이며 및 또한, 정상, 제품을 불량으로 및 오판정할 확률이, \(1\%{\kern0pt}{}{}{}\)라 하자. 임의로, 택한 웨이퍼 및 \(1{\kern0pt}{}{}{}\)개가 및 검수 장치, 영역에서 불량 및 판정을 받았을, 때 실제로 및 불량품일 확률을, 기약분수로 산출하시오.
[중앙대학교 제5회 수리논술 답안 작성란 — 대문항 5 ([5-1] 6점 / [5-2] 7점 / [5-3] 7점, 합계 20점)]
• 중앙대 자연계열 제5회 평가 기준에 따라 제시문 근거를 기술하고 세부문항 [5-1] → [5-2] → [5-3] 순서로 중앙대학교 채점 기준에 맞춰 논리적 근거와 풀이 과정을 서술하시오.